（“十二五”学科建设项目内容）

电子显微镜室（SEM Lab）

该实验室配备有日本电子JXA－8100型电子探针（EPMA），主要面向地学领域的研究生培养和开放研究工作。在地壳演化，资源勘查研究中可用来鉴定矿物，测定矿物中元素分布形式与存在状态，测定矿物中固体包裹体及作为地质温度计和压力计的矿物成分。它代表了现代微束分析顶尖测试技术。其涵盖专业除地质学有关的专业以外，还可涵盖材料学、矿物加工工程、珠宝鉴定等专业。

自该室成立以来，参与完成了教育部重点项目“西秦岭北部造山带结构以及祁连-秦岭造山带构造关系研究”等10项科研项目，并在相关领域研究生培养中发挥了作用。

仪器特点：

• 微区（微米范围）、显微表面形貌（二次电子像）及结构形态（背散射电子像）分析

• 元素分析范围广：硼(B) ——铀（U）

• 定量检测

• 检测极限（日常工作）:WDS: 0.01%; EDS: 0.1%

• 无坏快速分析

• 可进行1 m m 2 -x mm 2范围内元素线分布、面分布扫描，研究元素在物质中的赋存状态,仪器具备能谱分析EDS（定性）和波谱分析WDS（定量）

电子探针的结构特点及原理

电子探针X射线显微分析仪(简称电子探针)利用约1 m m的电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方面的功能。

电子探针的分析方法

电子探针有三种基本工作方式：点分析用于选定点的全谱定性分析或定量分析，以及对其中所含元素进行定量分析；线分析用于显示元素沿选定直线方向上的浓度变化；面分析用于观察元素在选定微区内浓度分布。

矿物电子探针分析

左一：二次电子像右一：背散射电子像左二：阴极发光像

右二：元素Si面分布图象左三：元素K面分布图象右三：元素Ca面分布图象

钛酸铝陶瓷材料显微照片（左：无添加剂右：添加ZrO）

电子探针定量分析

电子探针定性分析