我实验室近期成功安装搭建了“飞行时间二次离子质谱分析平台”（time of flight mass spectrometer，Tof-SIMS）。该Tof-SIMS为日本ULVAC-PHI公司生产的PHI nanoTOF3，价值1042万元，通过采用液态金属Bi作为一次离子激发样品表面产生极其微量的二次离子，根据二次离子因质量不同而飞行到探测器的时间不同来测定质量数小于12000（包括H、He等）的元素/分子，提供样品表层1-3个原子/分子层信息，探测极限为ng/g ~ μg/g，空间分辨率可达50 nm，并且具有离子成像及深度剖析能力，可以建立矿物等的成分3D模型。该仪器具有分析区域小、分析深度浅、不破坏样品且能精确分析绝缘样品的特点，可以服务于精细矿物学、材料化学、电池能源和生物制药等领域相关研究工作。

PHI nanoTOF3飞行时间二次离子质谱分析平台

2024年3月29日下午，由学校实验室与设备管理处胡捷老师牵头，组织学校国有资产管理处李献老师、计划财务处董晓鹏老师和审计处张思弘老师，对我院成矿作用及其动力学实验室新购置的日本PHI nanoTOF3飞行时间二次离子质谱仪进行了验收。验收工作由温汉捷院长主持，焦建刚副院长带队，实验室老师谭细娟、何克和张磊，以及仪器供应商广东省中科进出口有限公司经理林丽参加了验收。

飞行时间二次离子质谱分析平台验收小组

验收小组通过听取实验室老师谭细娟汇报，观看仪器操作过程，质询仪器运行指标参数、日常维护以及对外服务等相关问题后，认为新购安装的该仪器符合各项验收要求，一致通过该仪器的验收。

谭细娟老师向验收小组汇报仪器信息

仪器负责人：谭细娟

联系方式：029-82339067（地学科技大厦405）

供稿：谭细娟  供图：何克、谭细娟 审核：温汉捷